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进口台式涂镀层测厚仪

进口台式涂镀层测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

电话: 13390886325
邮箱: jinson@vip.163.com
产品详情

简介


FISCHERSCOPE X-RAY XULM 是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

典型的应用领域有:

·对十分微小零部件、接插件和线材进行测量

·在印制电路板上进行手动测量

·针对珠宝和手表业中需求的测量

比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。正如所有的 FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样,本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性,这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

依靠 FISCHER 的完全基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

XULM 240 型仪器配备有微聚焦 X 射线管以及可电动切换的视准器和基本滤片,因此更适合对微小工件进行测量。


设计理念


FISCHERSCOPE X-RAY XULM 仪器是用户界面友好的台式测量仪。根据用户不同的使用需求,其配置了手动 XY 轴工作台,用于细小样品的精确定位。

为了样品定位简单快捷,X 射线发生器和比例接收器都集成在仪器下部舱室中,因而样品的底部是实际被测量面,样品则由一层透明的薄膜托放在测量室中。

虽然仪器采用了紧凑型设计,但是其配置的超大测量室,使得对大型工件的测量也是同样的得心应手。

所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM® 软件在电脑上完成。

FISCHERSCOPE XULM 240 完全满足 DIN ISO 3497 标准和 ASTM B 568 标准。作为受完全保护的仪器,其型式许可符合德国 “Deutsche Röntgenverordnung-RöV” 法规的规定。